XRF(فلورية الأشعة السينية) هي تقنية تحليلية غير مدمرة تستخدم لتحديد التركيب العنصري للعينة عن طريق قياس الأشعة السينية الفلورية المنبعثة عندما تتعرض العينة للأشعة السينية.تُستخدم هذه التقنية على نطاق واسع في مجالات مختلفة، بما في ذلك الكيمياء والجيولوجيا وعلم الآثار وعلوم البيئة والصناعة، لتحليل المواد ومراقبة الجودة.
يتضمن المبدأ الأساسي لـ XRF قصف عينة بأشعة سينية عالية الطاقة، مما يتسبب في إثارة الذرات الموجودة في العينة بشكل مؤقت وإصدار أشعة سينية فلورية مميزة للعناصر الموجودة.يتم بعد ذلك الكشف عن هذه الأشعة السينية المنبعثة وتحليلها لتحديد أنواع وكميات العناصر الموجودة في العينة.
يمكن إجراء تحليل XRF باستخدام أنواع مختلفة من المعدات، بما في ذلك أجهزة التحليل المحمولة باليد، والأدوات الموضوعة على الطاولة، ومقاييس الطيف المختبرية الأكثر تقدمًا.ويُقدر بسرعته، وطبيعته غير المدمرة، وقدرته على تحليل مجموعة واسعة من المواد، من المواد الصلبة والسوائل إلى المساحيق.
يعد XRF مفيدًا لأنه غير مدمر، ولا يتطلب سوى القليل من تحضير العينات أو لا يتطلب ذلك على الإطلاق، ويمكنه تحليل المواد الصلبة والسوائل والمساحيق.ومع ذلك، لديها قيود من حيث الكشف عن العناصر الخفيفة وتوفير البيانات الكمية للعينات ذات المصفوفات المعقدة.يستخدم XRF بشكل شائع للتحليل النوعي والكمي للمواد المختلفة.
بشكل عام، تعد تقنية XRF تقنية قوية ومتعددة الاستخدامات لتحليل العناصر والتي تجد تطبيقات في نطاق واسع من المجالات نظرًا لدقتها وسرعتها وسهولة استخدامها.
